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Sn02納米材料的表征

發(fā)布時(shí)間:2022-04-20 訪問量:2087
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Sn02納米材料的表征主要是通過透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、X射線衍射、比表面積法等。

  • 用透射電鏡可直接觀察產(chǎn)物的平均直徑和粒徑的分布;

  • 掃描電鏡可觀察產(chǎn)物的形貌及尺寸;

  • x射線衍射可測(cè)定產(chǎn)物的晶粒度。

1、掃描電子顯微鏡(SEM):能夠直接觀察樣品表面的結(jié)構(gòu)、形貌、平均直徑或粒徑的分布,樣品制備過程簡單,不用切成薄片,樣品可以在樣品室中作三度空間的平移和旋轉(zhuǎn),因此,可以從各種角度對(duì)樣品進(jìn)行觀察,圖象的放大范圍廣,分辨率也比較高,可放大六十萬倍,它基本上包括了從放大鏡、光學(xué)顯微鏡直到透射電鏡的放大范圍。


2、透射電子顯微鏡(TEM):用透射電鏡盯觀察Sn02納米材料粒子平均直徑或粒徑的分布,電鏡測(cè)試是觀察測(cè)定顆粒度的絕對(duì)方法,因而具有可靠性和直觀性,以高能電子穿透樣品,根據(jù)樣品不同位置的電子透過強(qiáng)度不同或電子透過晶體樣品的衍射方向不同,經(jīng)過后面電磁透鏡的放大后,在熒光屏上顯示出圖像。

3、xRD:電鏡觀察法測(cè)量得到的是顆粒度而不足晶粒度,x射線衍射線寬法是測(cè)定顆粒晶粒度的方法。當(dāng)顆粒為單晶時(shí),該法測(cè)得的是顆粒度,顆粒為多晶時(shí),該法測(cè)得的是組成單個(gè)顆粒的單個(gè)晶粒的平均晶粒度,這種測(cè)量方法只適用晶態(tài)的納米粒子顆粒度的評(píng)估。該法可以鑒定物質(zhì)晶相的尺寸和大小,并根據(jù)特征峰的位置鑒定樣品的物相,檢測(cè)純度及結(jié)構(gòu),再用謝樂公式計(jì)算晶粒尺寸。

純SnO2屬于四方晶系,金紅石結(jié)構(gòu)。單位晶胞有6個(gè)原子,其中2個(gè)Sn原子,4個(gè)O原子,如下圖所示。每個(gè)Sn原子位于6個(gè)O原子組成的近似八面體的中心,而每個(gè) O原子也位于3個(gè)Sn原子組成的等邊三角形的中心,形成6:3的配位結(jié)構(gòu)。


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