Sn02納米材料的表征主要是通過透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、X射線衍射、比表面積法等。

• 用透射電鏡可直接觀察產(chǎn)物的平均直徑和粒徑的分布；

• 掃描電鏡可觀察產(chǎn)物的形貌及尺寸；

• x射線衍射可測(cè)定產(chǎn)物的晶粒度。

1、掃描電子顯微鏡(SEM)：能夠直接觀察樣品表面的結(jié)構(gòu)、形貌、平均直徑或粒徑的分布，樣品制備過程簡單，不用切成薄片，樣品可以在樣品室中作三度空間的平移和旋轉(zhuǎn)，因此，可以從各種角度對(duì)樣品進(jìn)行觀察，圖象的放大范圍廣，分辨率也比較高，可放大六十萬倍，它基本上包括了從放大鏡、光學(xué)顯微鏡直到透射電鏡的放大范圍。

2、透射電子顯微鏡(TEM)：用透射電鏡盯觀察Sn02納米材料粒子平均直徑或粒徑的分布，電鏡測(cè)試是觀察測(cè)定顆粒度的絕對(duì)方法，因而具有可靠性和直觀性，以高能電子穿透樣品，根據(jù)樣品不同位置的電子透過強(qiáng)度不同或電子透過晶體樣品的衍射方向不同，經(jīng)過后面電磁透鏡的放大后，在熒光屏上顯示出圖像。

3、xRD：電鏡觀察法測(cè)量得到的是顆粒度而不足晶粒度，x射線衍射線寬法是測(cè)定顆粒晶粒度的方法。當(dāng)顆粒為單晶時(shí)，該法測(cè)得的是顆粒度，顆粒為多晶時(shí)，該法測(cè)得的是組成單個(gè)顆粒的單個(gè)晶粒的平均晶粒度，這種測(cè)量方法只適用晶態(tài)的納米粒子顆粒度的評(píng)估。該法可以鑒定物質(zhì)晶相的尺寸和大小，并根據(jù)特征峰的位置鑒定樣品的物相，檢測(cè)純度及結(jié)構(gòu)，再用謝樂公式計(jì)算晶粒尺寸。

純SnO2屬于四方晶系，金紅石結(jié)構(gòu)。單位晶胞有6個(gè)原子，其中2個(gè)Sn原子，4個(gè)O原子，如下圖所示。每個(gè)Sn原子位于6個(gè)O原子組成的近似八面體的中心，而每個(gè) O原子也位于3個(gè)Sn原子組成的等邊三角形的中心，形成6：3的配位結(jié)構(gòu)。