Sn02納米材料的表征主要是通過透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、X射線衍射、比表面積法等。

• 用透射電鏡可直接觀察產物的平均直徑和粒徑的分布；

• 掃描電鏡可觀察產物的形貌及尺寸；

• x射線衍射可測定產物的晶粒度。

1、掃描電子顯微鏡(SEM)：能夠直接觀察樣品表面的結構、形貌、平均直徑或粒徑的分布，樣品制備過程簡單，不用切成薄片，樣品可以在樣品室中作三度空間的平移和旋轉，因此，可以從各種角度對樣品進行觀察，圖象的放大范圍廣，分辨率也比較高，可放大六十萬倍，它基本上包括了從放大鏡、光學顯微鏡直到透射電鏡的放大范圍。

2、透射電子顯微鏡(TEM)：用透射電鏡盯觀察Sn02納米材料粒子平均直徑或粒徑的分布，電鏡測試是觀察測定顆粒度的絕對方法，因而具有可靠性和直觀性，以高能電子穿透樣品，根據樣品不同位置的電子透過強度不同或電子透過晶體樣品的衍射方向不同，經過后面電磁透鏡的放大后，在熒光屏上顯示出圖像。

3、xRD：電鏡觀察法測量得到的是顆粒度而不足晶粒度，x射線衍射線寬法是測定顆粒晶粒度的方法。當顆粒為單晶時，該法測得的是顆粒度，顆粒為多晶時，該法測得的是組成單個顆粒的單個晶粒的平均晶粒度，這種測量方法只適用晶態(tài)的納米粒子顆粒度的評估。該法可以鑒定物質晶相的尺寸和大小，并根據特征峰的位置鑒定樣品的物相，檢測純度及結構，再用謝樂公式計算晶粒尺寸。

純SnO2屬于四方晶系，金紅石結構。單位晶胞有6個原子，其中2個Sn原子，4個O原子，如下圖所示。每個Sn原子位于6個O原子組成的近似八面體的中心，而每個 O原子也位于3個Sn原子組成的等邊三角形的中心，形成6：3的配位結構。